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超薄膜厚測試儀是一種用于測量超薄膜層（通常厚度在納米至微米級之間）厚度的高精度儀器。隨著微電子技術、納米技術以及半導體產(chǎn)業(yè)的快速發(fā)展，超薄膜層材料的應用越來越廣泛，尤其是在集成電路、光學涂層、薄膜太陽能電池、表面處理等領域中，薄膜的厚度直接影響產(chǎn)品的性能和質(zhì)量。

全自動鍍層測厚儀、膜厚儀儀器簡介：XTD-200是一款專用于檢測各種異形件，特別適用于五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。該系列儀器不但可以應對平面、微小樣品的檢測，在面對凹槽曲面深度0-90mm以內(nèi)的異形件具備巨大的優(yōu)勢；搭載全自動可編程移動平臺，無人值守，便可實現(xiàn)多樣品的自動檢測。被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。產(chǎn)品優(yōu)勢

全自動鍍層測厚儀 XTD-200是一款于檢測各種異形件，特別適用于五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。該系列儀器不但可以應對平面、微小樣品的檢測，在面對凹槽曲面深度0-90mm以內(nèi)的異形件具備巨大的優(yōu)勢；搭載全自動可編程移動平臺，無人值守，便可實現(xiàn)多樣品的自動檢測。被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。